主要的老化试验项目有：光老化、热老化、湿热老化、盐雾老化、臭氧老化、高低温循环。客户在选购老化房做电子元器件老化试验时，可根据不同的要求设计规格，以满足试验需求。通过试验程序检杳出不良品或不良件，帮助客户快速找出问题，提高电子元器件的产品可靠性。
温度类老化试验参考以下试验标准：
GB/T 2423. 1-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温（IEC60068-2-1-2007，IDT）
GB/T 2423. 2 -2008电工 电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
GB/T2423. 4-2008电工 电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热（12h + 12h循环）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
各公司可根据产品性能和参考标准增加试验项目，以下是具体试验方法，仅供参考。
1. 将处于室温的试品（各类电子器部件及产品），在不加包装、不通电、“准备使用”状态下， 按其正常位置放入已调到规定试验温度的老化房内（被测产品尺寸重量小则选用恒温恒湿试验箱）。
2. 被测样品应均匀摆放在高低温老化试验箱内，使老化房温度调整到规定的试验温度下，温度达到稳定。
3. 老化试验结束后的试品应放在恢复的标准大气条件下保持1h以上。然后，按有关标准规定进行外观检查及有关电气、机械性能的检测。
因产品不同，试验需求不同，老化试验项目也不同。昆山振弘有着丰富的行业经验，拥有环境可靠性设备研发、生产及售后服务的队伍，可根据客户的需求提出相对应的解决方案，主营冷热冲击试验箱、高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、老化房、淋雨试验箱、振动试验台等等，欢迎来电拨打0512-57791419进行咨询！
