产品简介
高温老化房针对于高性能电子产品（如：计算机整机、显示器、终端机、电源供应器、PCBA板、监视器、交换式充电器、太阳能逆变器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程。该设备广泛也广泛应用于半导体集成电路、5G通讯、医疗器械、食品加工、生物制药等各类领域。
技术参数
型号
Model
ZH-KBG-4P
ZH-KBG-6P
ZH-KBG-12P
ZH-KBG-20P
ZH-KBG-30P
内箱尺寸（W*D*H mm）
Inner Size
2000*2000*2000
2000*3000*2000
4000*3000*2000
5000*4000*2000
6000*5000*2000
外箱尺寸（W*D*H mm）
Overall Size
以实际尺寸为主 Based on actual size
温度范围
Temperature Range
RT+20℃~+85℃
温度波动度
Temperature Fluctuation
±2℃
温度均匀度
Temperature Uniformity
＜60℃± 2℃；≥60℃ ±3℃
温度偏差
Temperature Deviation
± 2℃
升温速率
Heating Rate
1~3℃/min （空载Unloaded，非线性Nonlinear）
参考标准
Standard Reference
GB/T2423.2；GJB150.3；GB/T517.5；IEC60068-2-2
温度范围：RT+20℃~+85℃
升温速率：≥3℃/min
温度偏差：≤±2℃
温度均匀度：≤2℃
温度波动度：≤±1℃
湿度分辨度：0.01℃
房体材质：PU聚氨酯、岩棉（可选）
选配项目：电源监控、视频监控、软件定制、负载电源、老化台车、制冷系统、加湿系统
内箱容积：6m³-8m³-12m³-16m³-20m³-30m³-40m³-60m³（可定制）
